半導体用語集
THB試験
英語表記：THB test
半導体デバイスに高温、高湿、電源電圧印加をストレス要因として与える試験。主に樹脂封止半導体におけるアルミ配線の腐食を見る試験。THBとは、temperature humidity biasの略称である。
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