半導体用語集
ICの機能試験
英語表記：
ICチップの出荷試験などで行われる機能に関しての試験である。ファンクション・テストとも呼ばれる。テスタ上で、ICチップを実動作状態にし、テスト入力データをICチップに印加し、出力を取り出し、あらかじめまとめておいた期待値との一致を見て、そのチップの合否を判定する。使われるファンクション・テストベクタは設計者が設計の機能検証時に作成しておく。なお、入力に与えられるパターンの集合と出力の期待値の集合のことをテストベクタと呼ぶ。
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