半導体用語集
Porous Law-k膜
英語表記:Porous Law-k film
誘電率をkで表すので、低誘電率膜のことをLow-k膜と呼んでいる。配線の信号遅延は、抵抗Rと容量Cの積CRに比例するが、配線の微細化が進むと、CもRも大きくなる。Cを下げるためには、層間絶縁膜の誘電率を下げる必要があり、SiO2(k=4)SiOF(k=3.7)、SiOC(k=3)と、徐々にk値の低い膜が採用されてきたが、誘電率が1の真空が最良であり、それに近づけるため、気泡を混入したPorous Low-k膜が検討されている。誘電率は下がるが、スポンジのような柔らかい膜なので、CMPやWire Bondingなどの圧力が掛かる工程が問題となり、生産への導入には必ずしもスムーズではない。
関連製品
「Porous Law-k膜」に関連する製品が存在しません。キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
「Porous Law-k膜」に関連する用語が存在しません。
「Porous Law-k膜」に関連する特集が存在しません。
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。