半導体用語集
システムLSIテストシステム SoCテストシステム ミックスドシグナルテストシステム
英語表記：system LSI test system system on chip test system mixed signal test system
ロジッシステムク、メモリ、アナログを混載したシステムLSI/SoCの試験を可能としたテストシステム。DUTにはメモリを混載したMCU、ASICの通信系デバイスなどがある。代表的な試験にはAD/DAにおいて微分積分直線特性、ロジック/メモリにおいてはファンクション試験がある。
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