半導体用語集
ダイレクトインデックス機能 サンプリングプローブ機能
英語表記：direct index function sampling prove function
ウェーハテストを実施する前に予め測定するチップのウェーハ上でのロケーション（座標）をテストシステムまたはプローバに設定しておき、テストの際そのデータを基に設定されたチップのみをプロービングする機能。
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