半導体用語集

テストレートピリオド

英語表記:test rate period

ファンクショナル試験において1ステップのテストデータを発生するのに必要な値。単位には時間(ns、µsなど)を用いる。


関連製品

「テストレートピリオド」に関連する製品が存在しません。

関連用語

関連特集

「テストレートピリオド」に関連する用語が存在しません。




「テストレートピリオド」に関連する特集が存在しません。




会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。