半導体用語集
パルスマスクテスト
英語表記：pulse mask test
ISDN用デバイス測定で、単一パルマスデータを送出するとき波形のオーバーシュート、アンダーシュート、タイミングのズレなどを許容できる範囲のテンプレートと比較するテスト。
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