半導体用語集
二次電子像観測機能
英語表記：secondary electron image
一次電子ビームを照射し被測定試料からとびだしてくる二次電子による像を観測する機能。像の観測方法には、時間的に連続（リアルタイム）または間欠的（ストロボ）に行う2通りがある。
関連製品
「二次電子像観測機能」に関連する製品が存在しません。キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
「二次電子像観測機能」に関連する用語が存在しません。
「二次電子像観測機能」に関連する特集が存在しません。
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。
