半導体用語集
個別半導体テストシステム ディスクりートテスタ
英語表記：discrete component test system discrete tester
ダイオード、トランジスタ、フォトカプラなどの電気的特性を測定する装置。
関連製品
「個別半導体テストシステム ディスクりートテスタ」に関連する製品が存在しません。キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
「個別半導体テストシステム ディスクりートテスタ」に関連する用語が存在しません。
「個別半導体テストシステム ディスクりートテスタ」に関連する特集が存在しません。
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。
