半導体用語集
同時測定機能 並列測定機能
英語表記：parallel test function
2個以上の被測定デバイスを1台のテストシステムで同時に試験する機能。例えば、64個のデバイスを同時測定する場合は、64個取り、64マルチ又は64サイトなどという。同時測定するデバイスの数は、テストシステム1台あたりで表現する場合とテストヘッド1台あたりで表現する場合がある。
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