半導体用語集

歩留り イールド

英語表記:yield

被測定デバイス数に対する良品数の比率。生産効率を示す用語。


関連製品

「歩留り イールド」に関連する製品が存在しません。

関連用語

関連特集

「歩留り イールド」に関連する用語が存在しません。




「歩留り イールド」に関連する特集が存在しません。




会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。