半導体用語集
点欠陥試験
英語表記：point defect test
均一光はダーク条件において、特定の独立した画素出力が異常なものを試験すること。他の出力異常に比べて大きい場合は白点欠陥、小さい場合は黒点欠陥という。その他にペア欠陥、ザラ欠陥がある。
関連製品
「点欠陥試験」に関連する製品が存在しません。キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
「点欠陥試験」に関連する用語が存在しません。
「点欠陥試験」に関連する特集が存在しません。
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。
