半導体用語集

点欠陥試験

英語表記:point defect test

均一光はダーク条件において、特定の独立した画素出力が異常なものを試験すること。他の出力異常に比べて大きい場合は白点欠陥、小さい場合は黒点欠陥という。その他にペア欠陥、ザラ欠陥がある。


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