半導体用語集

蛍光X線分光分析法 XRFS

英語表記:X-ray fluorescence spectroscopy

試料に高いエネルギーのX線を照射して励起すると、試料から蛍光X線が放射される。そのスペクトル線波長から試料中の元素が同定され、各線の強度から濃度を定量する方法。


関連製品

「蛍光X線分光分析法 XRFS」に関連する製品が存在しません。

関連用語

関連特集

「蛍光X線分光分析法 XRFS」に関連する用語が存在しません。




「蛍光X線分光分析法 XRFS」に関連する特集が存在しません。




会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。