半導体用語集
試験周波数 動作周波数
英語表記：test frequency operating frequency
ファンクショナル試験において被測定デバイスを試験するために必要なデータ発生、及びデバイス出力を比較する周波数。テストシステムの性能を表すためには従来から最高試験周波数が用いられていたが、最近高速なテストシステムにおいては、最高試験周波数とあわせて最大データレートが併記で用いられることもある。
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