半導体用語集
超加速寿命試験
英語表記：super accelerating life test
半導体デバイスに高温、高湿、高圧のストレス要因を与え、劣化現象を加速させ、デバイスの評価をするための試験。主に樹脂封止半導体の試験に用いられる。
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