半導体用語集
非同期テスト
英語表記：asynchronous test
通信用デバイスやビデオRAMなどの複数の周波数を必要とする非同期デバイスにおいて、異なる周波数を印加して試験すること。例えば、デュアルポートを有するビデオRAM においては、タイミング発生器とパターン発生器を各々2台用いて試験を行う。
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