半導体用語集
2パステスト
英語表記：two-pass testingdouble insertion testing
被測定デバイスを異なる2つのテストシステムを用いて、工程を分けてテストすること。システムLSIなどはチップ内の機能ブロックにより、テスト内容が異なるため、一般にこの方法で測定される。使用するテストシステムが3種の場合は、3パステストという。
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