半導体用語集
ATE テスタ
英語表記：automatic test equipment test system
半導体及び電子部品実装ボードをテストする自動検査装置。ATEは、測定対象となるデバイスにより、それぞれ異なる測定機能を備えたロジックテストシステム、メモリテストシステム、リニアテストシステムなどやハードウェアの機構（アーキテクチャ）が異なるパーピンテスタ、シェアードリソーステスタなどに分類される。
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