半導体用語集
BIST（ビスト）
英語表記：Built in Self Test
Built in Self Testの略。テスト回路をLSI内部に組みこんでおき、内部回路をテストする手法。BISTにはロジックBISTと、メモリBISTがある。IC内部のメモリ周辺にテスト用のアドレス生成回路、データ生成回路、データを読み出し比較する回路等を置く。テスト時にはマルチプレクサを切り替えて、テスト用のアドレス等がメモリに加わるようにする。メモリがLSI内部の多くの面積を占めるようになった現在、メモリBISTの役割が重要視されている。
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