半導体用語集
HAST プレッシャクッカ
英語表記：highly accelerated temperature and humidity stress test pressure cooker
加圧された水蒸気の下において、供試品への水分の浸透と拡散による電気・電子回路への影響を評価する試験装置である。該当試験規格としては、EIA/JEDEC TEST Method A 110-B、EIAJ ED-4701-3、IEC68-2-66等がある。本試験は、規定された温度・相対温度及び試験時間は、従来の大気圧下で行う体質試験条件に比較して、非常に厳しい条件が課せられている。
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