半導体用語集
スキャンテスト
英語表記：
ロジックICのテスト手法の一つ。IC内部のフリップフロップを直列につなぎ合わせシフトレジスタ構成にし、スキャン入力からテストデータを与え、結果もシフトさせてスキャン出力から見る。このようにして内部組み合わせ回路にデータを与えて、その出力を読み取る。これで故障の有無の判定が出来る。
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