半導体用語集
DFT
英語表記：Design for Testability
Design for Testabilityの略。テストが容易に出来るように設計に工夫を加えること。例えば、大きなカウンタのテストを考えた時、通常のやり方では上位の桁は下位の桁からの桁上がりを待たないと動作できず、テスト時間を長くする一因となる。そこで低位のカウンタと上位のカウンタとを分け、上位のカウンタにはテスト用のクロック、テスト用の桁上がり信号を別に与える。このようにして、テスト時間を短縮する設計上での工夫を行うのがDFTの一つの手法である。この例は論理設計時に行うDFTであるが、他にも、論理設計時以外に行うBFTとして、スキャンテスト、コアテスト、BIST 等がある。
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