半導体用語集

フリッカ雑音

英語表記：fliker noise

<table border="0" cellpadding="0" cellspacing="0" width="793" style="width: 594pt;"><tbody><tr height="141" style="mso-height-source:userset;height:105.95pt">
<td height="141" class="xl65" width="793" style="height:105.95pt;width:594pt">ほぼ周波数に逆比例するスペクトル分布を示す雑音で，キャリアが主として半導体と酸化膜の界面にある深いトラップ準位に捕獲,放出されるために生じるとされている。低い周波数になるほど大きく，バイボーラトランジスタよりMOSトランジスタで大きい。
<br>

MOSトランジスタでは，式1で表わされる。ここで，K<sub>F</sub>は素子固有の値，C<sub>ox</sub>はゲート酸化膜の単位面積当たりの容量，W，Lんはそれぞれトランジスタのチャネル幅と長さ，AFはやはり素子固有でほば1に等しい定数である。フリッカ雑音を小さくするためには，チャネルの面積を大きくしなければならない。<br>
&nbsp;特に100kHz帯域以下で80dB以上の特性を要求するオディオ用のA/D，D/A変換器や，基準電圧を発生させるためのバンドギャップリファレンス回路で考慮しておく必要がある。</td></tr></tbody></table>


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