半導体用語集
マルチ測定
英語表記：multi-die probing
プローバにおいて，1チップづつインデックスして測定するのではなく，1回の測定で2チップ，4チップ，8チップ，あるいはそれ以上と同時に測定することをいう。2マルチ時は，CH1.とCH2.の位置により，ロケーションが決められる。4マルチ，8マルチはともにxとyの2種類のロケーションとなる。さらに斜め方向にマルチをとっていくケースもありうる。
現在，メモリ測定においては，マルチ測定が普通である。マルチの数が増加するに従い，スループットが上がるが、決してマルチ測定数と同じだけ，効率が上がるわけではない。その品種の歩留りとも密接な関係がある。
マルチプローブは，テスタの遊び時間を減らし，かつスループットを上げることが目的である。近年，メモリは16マルチ，32マルチおよびそれ以上の検討も進んでおり，またロジックにおいても，2マルチあるいは4マルチ化といった検討がなされている。
テスト効率のupと，テスタ，プロービングカードを含めたマルチ対応に伴うコストupとの綱引きはあるが，今後も多マルチ化の傾向は続くと思われる。
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