DUT（device under test） | 半導体用語集 |半導体/MEMS/ディスプレイのWEBEXHIBITION（WEB展示会）による製品・サービスのマッチングサービス SEMI-NET（セミネット）

英語表記：device under test

主に半導体で試験の対象となるもの。デバイス（device）または被測定デバイスと言うこともある。メモリICを試験対象とする場合には、MUT（memory under test）とも言う。