半導体用語集
温度サイクル試験
英語表記：cycling test
被測定デバイスを高温及び低温に繰り返してさらし、寸法及び他の物理的性質の変化を生じさせて動作特性及び物理的損傷の耐久性を設定するために行われる試験。
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