半導体用語集
環境試験
英語表記：Environmental testing
信頼性試験は限界モデルに対応した環境試験と耐久モデルに対応した耐久試験（加速寿命試験）に分けられる。環境試験では，製造後の輸送・実装・使用での熱的・機械的ストレスに対する耐性を試験する。環境試験は熱的環境試験，機械的環境試験，その他に分けられる。熱的環境試験では，実装時の温度およびその変化に対する耐性を試験するため，たとえば，はんだ耐熱試験（260℃，10秒）の後，温度サイクル試験（-65～150℃，10サイクル）と熱衝撃試験(0～100℃，15サイクル）を行う。機械的環境試験では，製造後の輸送・実装・使用での機械的ストレスに対する耐性を試験するため，たとえば，可変周波振動試験（20～2000Hz），衝撃試験（1500G），定加速試験（2万G，3方向に各1分間）を行う。その他の環境試験としては，はんだ付け性試験（たとえば，230℃，5秒），端子折り曲げ強度試験（たとえば，90度曲げ，3回）がある。
関連製品
「環境試験」に関連する製品が存在しません。キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。
