半導体用語集
信頼性試験
英語表記：reliability test
製品の信頼性を調べるため，あるいは信頼性を向上させるための試験のこと。信頼性を表わす尺度としては，信頼度，平均寿命，故障率などがある。信頼性を調べる試験は，これらの信頼度や平均寿命などを決定するための信頼性決定試験と，ある条件に適合するかどうかを判定する信頼性適合試験がある。信頼性を向上させるための試験は，初期不良を取り除くためのスクリーニングやバーンイン，エージングなどがある。
信頼性試験は，本来製品が置かれる環境で実施するのが望ましいが，通常膨大な時間がかかってしまうため現実的でない。そのため通常よりも厳しい条件下に製品を置くことにより故障を起こしやすくし，判定に必要な時間を短縮させるための加速試験が多く用いられている。加速条件には，温度，湿度，電圧などのパラメータがあり，故障メカニズムが基準環境と変わらない範囲で，加速条件のパラメータを変化させることができる。
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