半導体用語集
MCL
英語表記:metal contamination level
シリコンウェーハの表面金属汚染量を表す単位の一つであり、シリコンウェーハの単位面積当たりに存在する金属不純物の原子数で表す。(1MCL=1010atoms/cm2)また表面金属汚染量の概念を表す用語として使用することもある。
関連製品
「MCL」に関連する製品が存在しません。キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。