半導体用語集
MCL
英語表記：metal contaminationlevel
シリコンウェーハの表面金属汚染量を表す単位の一つであり、シリコンウェーハの単位面積当たりに存在する金属不純物の原子数で表す。（1MCL=1010atoms/cm2）また表面金属汚染量の概念を表す用語として使用することもある。
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