半導体用語集
累積故障確率
英語表記：cumulative failure
ある時間までに故障したものの全体に対する割合である。ある時間までに故障する確率にもなっている。
純粋に数理統計の立場からみると，分布関数または累積分布関数(cumulative distribution function, c. d. f.)と呼ばれる。この時の確率変数はアイテムの故障寿命である。信頼性の立場からは，累積故障確率，不信頼度（関数），または，故障分布（関数）と呼ばれる。通常F(t)で表わす。英語ではcumulative failure（％）あるいはc. d. f. という表現がよく用いられる。
正確な定義は図1に示すように，故障時間の確率密度関数を時間０からtまで積分したものである。ワイブル確率紙や対数正規確率紙などを用いてデータ解析を行う際は，この累積故障確率の推定値を縦軸の値として用いる。詳細は「確率紙」の項を参照されたい。
累積故障率と呼ぶと累積ハザード関数と解釈される。誤解を招く表現は避けたい（「故障率」の項参照）。
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