半導体用語集
外観検査装置
英語表記:visual inspection equipment
製品の仕上がりを自動的に検査する装置の総称。パッケージのボイドなど表面状態、リード形成の仕上がり状態、マーク品質などを光学的に読み取り画像処理による良否判定を行う。
関連製品
ウェーハ外観検査装置INSPECTRAシリーズ
東レエンジニアリング先端半導体MIテクノロジー株式会社
半導体製造の前工程から後工程まで『ハイスピード』『ハイスペック』でウェーハの全数自動検査の要求にお応えします。
半導体製造装置・試験/検査装置・関連部品 › 検査装置 › 光学式ウェーハ外観検査装置
ZI-3500
株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ
loT向け電子デバイスに対応したパターン付きウェーハ外観検査装置
半導体製造装置・試験/検査装置・関連部品 › 検査装置 › 光学式ウェーハ外観検査装置
ZI-2000
株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ
ハイスピード、ハイコストパフォーマンスを追求。パターン付きウェーハ外観検査装置
半導体製造装置・試験/検査装置・関連部品 › 検査装置 › 光学式ウェーハ外観検査装置
キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
「外観検査装置」に関連する用語が存在しません。
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。