半導体用語集
STA
英語表記:Static Timing Analysis
Static Timing Analysisの略。タイミング検証方法の一つで、検証対象回路の論理構造を解析し、入力から出力に至るまでの経路の全てを取り出し、それらの経路に関して遅延の合計を計算し、タイミング条件が満たされているかどうかをチェックする。テストヘクタ不要である。各部の最大遅延を合計してセットアップ条件を満たしているか、各部の最小遅延を合計してホールド条件を満たしているか、両者のチェックを行う。
関連製品
ViiSTA900 3D
Applied Materials,Inc
2xnmノード以降の量産向け中電流イオン注入装置
半導体製造装置・試験/検査装置・関連部品 › 不純物導入装置(拡散装置は成膜装置内) › 中電流イオン注入装置
ViiSTA HCP
Applied Materials,Inc
高生産性高電流イオン注入装置
半導体製造装置・試験/検査装置・関連部品 › 不純物導入装置(拡散装置は成膜装置内) › 大電流イオン注入装置
キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。