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RE-3500

株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ
最終更新日: 2020年08月11日

loT向け電子デバイスに対応したエリプソ式膜厚測定装置

1. 微小エリア・高精度測定
 マイクロスポット光学系の採用により、40μm角の微細なエリアを高精度に測定します。

2. ハイスループット
 新開発光学ヘッドを搭載し、従来比2倍のハイスループットを実現しました。

3. 分光エリプソメータ搭載
 膜厚と光学定数の同時測定が可能。膜厚だけでなく、膜質の管理を行うことが重要な工程や、薄膜材料の開発、成膜プロセス開発に適しています。

4. 単波長エリプソメータ搭載可能(オプション)
 膜厚20nm以下の超薄膜を高精度で測定可能な単波長エリプソメータ(オプション)も搭載可能です。光源に長寿命タイプのレーザーダイオードを採用しており、大幅にランニングコストを削減します。

基本情報

ウェーハサイズ 125/150/200/300mm
測定方式 分光エリプソメータ(オプション:単波長エリプソメータ)
光源 長寿命レーザダイオード
測定エリア 40μm□

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取扱企業

株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ

業種:産業用機械  所在地:京都府 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目 天神北町1-1

半導体製造用洗浄装置のトップメーカー

SCREENセミコンダクターソリューションズは、
エッチング、フォトリソグラフィ、画像処理を技術のコアとし、半導体洗浄プロセスにおいて世界のトップメーカとなっている。最先端デバイス向けの高機能・高生産性装置から、200mm以下のさまざまなサイズ・形状の基板に対応できる製品まで、幅広い装置ラインナップをそろえている

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