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[EMS]エミッション顕微鏡法

財団法人材料科学技術振興財団
最終更新日: 2025年01月08日

EMS : Emission Microscopy

EMSは、半導体デバイスの異常動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。
・測定波長領域(可視域から近赤外域)に対して透明な材料のみ評価可能
・クラック・結晶欠陥・ESDによる酸化膜破壊・Alスパイクによるショートなどの内部の欠陥を低損傷で捉えることが可能

■MST所有装置の特徴
・高電圧電源(2000V仕様)による高耐圧デバイスの測定が可能
・スーパーインポーズ機能による高解像度パターン像と発光像の重ね合わせが可能
・裏面観察光学系を用いた裏面エミッション測定が可能
・4台のマニュアルプローバを暗箱内に設置
・B1500A(半導体パラメータアナライザ)との接続で精密な電圧・電流制御が可能
・検出器に1024×1024画素の高解像度冷却CCDカメラ及び近赤外で高感度のInGaAsカメラを搭載

基本情報

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納期 1週間以内
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取扱企業

財団法人材料科学技術振興財団

業種:試験・分析・測定  所在地:東京都 世田谷区喜多見 1-18-6

製品開発・品質管理を強力サポートする、受託分析サービス。 公正中立な第三者機関として、最先端の科学技術の発展に貢献します。

エレクトロニクス分野・マテリアル分野・ライフサイエンス分野などの製品・材料・素材の分析を、100種以上の分析手法を取り揃えて承っております。
お客様の「なぜ?」「困った…」「どうなってる?」に分析データ・解析結果でお応えします。

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