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VM-1200/1300

株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ
最終更新日: 2020年08月11日

製造ラインへの導入も可能な卓上型光干渉式膜厚測定装置

1.分光器にCCDイメージセンサを採用することで、可視光の全波長域にわたって同時に測定でき、膜厚を高速・高精度に測定できます。
2.レシピウイザード機能を使用することにより、複雑なレシピ作成作業を簡単に行え、レシピの管理、登録数も大幅に向上しています。
3.測定データの3次元マッピング表示、膜厚値修正機能、ヒストグラム表示、統計計算などデータのきめ細かい2次加工が可能です。
4.オートステージ、オートフォーカスにより、自動測定が可能です。
5.標準で25膜種の膜厚測定と分光反射率測定に対応。また、標準以外の各種測定プログラムを幅広く準備しています。
6.最大4層膜までの積層膜同時測定が可能です。
7.屈折率測定が可能です。
8.LAN対応することにより、工場内のネットワークに簡単に接続できます。(オプション)

基本情報

ウェーハサイズ 100/125/150/200/300mm
分光器 CCDイメージセンサ
対応積層数 4層

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取扱企業

株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ

業種:産業用機械  所在地:京都府 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目 天神北町1-1

半導体製造用洗浄装置のトップメーカー

SCREENセミコンダクターソリューションズは、
エッチング、フォトリソグラフィ、画像処理を技術のコアとし、半導体洗浄プロセスにおいて世界のトップメーカとなっている。最先端デバイス向けの高機能・高生産性装置から、200mm以下のさまざまなサイズ・形状の基板に対応できる製品まで、幅広い装置ラインナップをそろえている

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