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メモリ・テスト・システム「H5620」

株式会社アドバンテスト
最終更新日: 2021年12月10日

バーンインとメモリ・セル・テスト機能を兼ね備えた高生産性システム

「H5620」は、100MHzの周波数と最大200Mbpsのデータレートで、18,000個以上のデバイスを同時に試験できます。工場自動化にも対応可能なほか、デュアル・チャンバー構造により-10°Cから150°Cという広い温度範囲で安定してテストできます。加えて、メモリ・テストとバーンイン・テストを統合した省スペースにより、お客様のテスト・コスト削減に貢献します。
エンジニアリング向けのシステム「H5620ES」も発売している。

基本情報

Target Device: DRAM Core + Burn In
         LPDDR Core + Burn In
Parallel Count   System 18,432 @ 48Slot × 384 DDR4 DIB
         Board 384 :24ROW × 16COL (100MHz/200Mbps)
Max Frequency 100MHz/200Mbps
         200MHz/400Mbps (License Option)
OTA        +/-500ps
DR/CP SKEW   500ps p-p
Software      FutureSuite OS

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取扱企業

株式会社アドバンテスト

業種:産業用電気機器  所在地:東京都 千代田区丸の内 1-6-2 新丸の内センタービルディング

社会の安心・安全・心地よいを支える計測技術で産業、社会に貢献する

半導体の量産テスト用システムの開発・販売を中心に事業展開している。今後は、半導体量産工程の前後にある、半導体設計・評価工程や製品・システムレベル試験工程といった近縁市場へ事業領域を広げることを目指す。

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