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Surfscan SP7xp

KLA Corporation
最終更新日: 2022年11月28日

先端プロセスにも対応した12.5nmサイズのパーティクルが捕捉可能な欠陥検査装置

表面欠陥、研磨欠陥、ボイド、結晶ピット、テラス欠陥の発見に力を発揮します。
また、コーター塗布後のレジストも計測が可能です。

基本情報

検出方式:UVレーザー散乱高検出方式
視野:明視野、暗視野双方に対応
対応ウエハサイズ:300mm

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取扱企業

KLA Corporation

業種:産業用電気機器 フィルメトリクス本社 10655 Roselle St. サンディエゴ、カリフォルニア州 92121 

半導体、基板、ディスプレイなどの最先端検査・評価装置で、半導体関連産業の生産性向上に貢献

半導体、PCB、ディスプレイなど関連業界のプロセス制御分野のトップ企業。革新的な光学系、センサ、高性能コンピューティングを組み合わせた検査装置、計測装置、データ解析システムの開発と製造を行っている。

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