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【セミナー】先端半導体製造に求められる検査・計測の最新動向

グローバルネット株式会社
最終更新日: 2026年08月26日

先端半導体を製造するために欠かせないものは、半導体製造装置や材料だけではありません。検査・計測といった工程が歩留まりの向上や、品質保証の観点から極めて重要で、検査・計測を実行するための装置も欠かせないものとなっております。
しかし、検査・計測工程は製造プロセスほどは表立った情報が出てこないのが実情です。
今回のセミナーでは、検査・計測に多大な知見を有する講師の皆様にお集まり頂き、先端半導体の製造プロセスにおいて、検査・計測がどのような役割を果たすのかを解説して参ります。

13:05〜14:15「先端ロジックデバイスのプロセス技術と、そこに求められる検査と計測」（仮）
講師：小椋　厚志 氏（明治大学 理工学部 教授）
14:20〜15:30「半導体前工程で用いられる検査・計測技術の動向」（仮）
講師：中村 肇氏（Onto Innovation　シニアアプリケーションマネージャー）
15:45〜16:55「チップレット時代の光学式検査・計測技術の進化」
講師：遠藤 敏幸 氏（株式会社ミツトヨ　機器商品ビジネス部　市場戦略課）

基本情報

開催日時：2026年10月2日（金）13:05〜17:00
開催場所：プラザエフ（各線四ツ谷駅より徒歩1分）/ zoom
定員：会場 30名　オンライン 200名
受講料：個人参加（会場/オンライン）：30,800円（税込み）
　　　　5名までのグループ参加（オンラインのみ）：63,800円（税込み）

価格帯 1万円以上 10万円未満
納期 ご参加のための詳細なご案内は、開催日の2日前に配信いたします。
お問い合わせ

取扱企業

グローバルネット株式会社

業種：産業用電気機器  所在地：東京都 中央区湊 1-2-10 堀川ビル6F

必要な情報をタイムリーに届けたい。

グローバルネット株式会社（GNC）は出版やセミナーを通して、半導体やフラットパネルディスプレイの情報をタイムリーに提供することを目的に1990年に設立しました。そして2025年には創業35年を迎えます。
1994年にCMPプラナリゼーション委員会の事務局として活動する機会を経て、会員の皆様にCMP向け層間絶縁膜用テストウエハの提供を始めたことがきっかけとなり、テストウエハの試作・加工ファンドリビジネスに参入、事業化を致しました。

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